X射线光电子能谱仪系统XPS
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95/人使用者
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720/次机时次数
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5530.2/小时总时长
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1294/次送样次数
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60/人收藏者
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收费标准
机时300元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
Nexsa G2 -
当前状态
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管理员
于彰淇 18810236710 -
放置地点
北京校区分析测试中心科研楼k221
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
X射线光电子能谱仪系统XPS
资产编号
YQ20251000215
型号
Nexsa G2
规格
Nexsa G2
产地
捷克
厂家
Thermo Scientific
所属品牌
thermo scientific
出产日期
购买日期
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
分析仪器
资产负责人
于彰淇
联系电话
18810236710
联系邮箱
yuzhangqi@ncepu.edu.cn
放置地点
北京校区分析测试中心科研楼k221
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1.分析室极限真空度≤5×10-9 mbar；2.单色化Al Kα X射线源；3.源束斑尺寸：在10~400 μm之间可调；4.最小聚焦获得束斑（非成像模式）≤10 µm；5.仪器的分辨率及灵敏度：大束斑2.0 Mcps@0.6eV、6.5Mcps@1.0eV，小束斑（Φ15~20 µm，功率低于300W条件下）30kcps@0.6eV、300kcps@1.0eV；6.灵敏度：对于Ag费米边，能量分辨率小于100meV，灵敏度（Ag4d）≥1,000,000 cps。
主要功能及特色
主要对固体表面的成分进行表征，包括各种粉末材料、高分子材料、物理薄膜以及锂电池材料、新型光电材料、功能材料、陶瓷、玻璃、高分子聚合物、金属、半导体以及各种薄膜等研究领域，实现材料的表面几个原子层（1~10纳米厚的表面）的化学组成、价态，深度剖析及成像等综合分析与表征技术的研究。
样本检测注意事项
分析材料中存在的元素构成、经验式、以及元素的化学态和电子态。
设备使用相关说明
校内：
XPS测试60元/样（总扫描次数30以内，超出部分10元/10次）
深度剖析每测一层计一个样。
UPS测试80元/样
自主上机：340元/小时。
校外：
XPS测试90元/样（总扫描次数30以内，超出部分15元/10次）
UPS测试100元/样
XPS测试60元/样（总扫描次数30以内，超出部分10元/10次）
深度剖析每测一层计一个样。
UPS测试80元/样
自主上机：340元/小时。
校外：
XPS测试90元/样（总扫描次数30以内，超出部分15元/10次）
UPS测试100元/样
备注
可测试样品形态包括块状、薄膜、粉末等。块状高度不超过1cm
在优先满足教育部重点实验室和环境学院实验室教学科研的条件下，按规定和要求准备好样品，寄送来进行测试。电话沟通。
在优先满足教育部重点实验室和环境学院实验室教学科研的条件下，按规定和要求准备好样品，寄送来进行测试。电话沟通。
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