3D激光共聚焦扫描显微镜
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8/人使用者
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24/次机时次数
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180/小时总时长
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0/次送样次数
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4/人收藏者
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收费标准
机时250元/小时 -
设备型号
OLS5100 -
当前状态
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管理员
巨星,蔡成龙,王文杰 15617620709 -
放置地点
北京校区分析测试中心K214
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
3D激光共聚焦扫描显微镜
资产编号
FC02013
型号
OLS5100
规格
OLS5100
产地
日本
厂家
奥林巴斯
所属品牌
奥林巴斯
出产日期
购买日期
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
分析仪器
资产负责人
巨星
联系电话
15617620709
联系邮箱
scottju@ncepu.edu.cn
放置地点
北京校区分析测试中心K214
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
总倍率：54x–17,280x;
视场直径：16μm–5,120μm;
测量原理：
光学系统：反射式扫描共焦激光成像,反射式扫描共焦激光DIC成像，彩色成像，彩色DIC成像
光接收元件：激光：光电倍增管（2ch）;彩色：CMOS彩色相机
显示分辨率：0.5nm
动态范围：16 位
高度测量：
重复性n-1*1 *2 *5:5X：0.45μm,10X:0.1μm,20X:0.03μm,50X:0.012μm,100X:0.012μm
准确度*1 *3 *5：0.15+L/100μm(L:测量长度[μm])
拼接图像准确度*1 *3 *5：10X:5.0+L/100μm,20X or higher:1.0+L/100μm(L:拼接长度[μm])
测量噪声（SQ噪声）*1 *4 *5：1nm[典型值]
宽度测量：
显示分辨率：1nm,
重复性：3n-1*1 *2 *55X:0.4μm,10X:0.2μm,20x:0.05μm,50X:0.04μm,100X:0.02μm,
准确度*1 *3 *5：测量值+/- 1.5%
拼接图像准确度*1 *3 *5：10X:24+0.5Lμm,20X:15+0.5Lμm,50X:9+0.5Lμm,100X:7+0.5Lμm(L:拼接长度[μm])
单次测量时测量点数量：4096×4096像素
测量点数量：3600万像素
视场直径：16μm–5,120μm;
测量原理：
光学系统：反射式扫描共焦激光成像,反射式扫描共焦激光DIC成像，彩色成像，彩色DIC成像
光接收元件：激光：光电倍增管（2ch）;彩色：CMOS彩色相机
显示分辨率：0.5nm
动态范围：16 位
高度测量：
重复性n-1*1 *2 *5:5X：0.45μm,10X:0.1μm,20X:0.03μm,50X:0.012μm,100X:0.012μm
准确度*1 *3 *5：0.15+L/100μm(L:测量长度[μm])
拼接图像准确度*1 *3 *5：10X:5.0+L/100μm,20X or higher:1.0+L/100μm(L:拼接长度[μm])
测量噪声（SQ噪声）*1 *4 *5：1nm[典型值]
宽度测量：
显示分辨率：1nm,
重复性：3n-1*1 *2 *55X:0.4μm,10X:0.2μm,20x:0.05μm,50X:0.04μm,100X:0.02μm,
准确度*1 *3 *5：测量值+/- 1.5%
拼接图像准确度*1 *3 *5：10X:24+0.5Lμm,20X:15+0.5Lμm,50X:9+0.5Lμm,100X:7+0.5Lμm(L:拼接长度[μm])
单次测量时测量点数量：4096×4096像素
测量点数量：3600万像素
主要功能及特色
适用于固体、粉末、薄膜等轮廓测量，表面形貌测量
样本检测注意事项
轮廓测量，表面形貌测量，线条、多线和表面粗糙度测量，平面、体积、光步测
量，薄膜厚度测量，颗粒分析，不规则球面或者平面角度测量。
量，薄膜厚度测量，颗粒分析，不规则球面或者平面角度测量。
设备使用相关说明
校内：250元/h
校外：300元/h或300元/样
校外：300元/h或300元/样
备注
在优先满足教育部重点实验室和环境学院实验室教学科研的条件下，按规定和要求准备好样品，寄送来进行测试。电话沟通。
预约资源
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